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| 奥托昆普流程品位分析仪和浮选过程计算机控制(续) | |
| 引用本文： | 刘凤翘,黄信和.奥托昆普流程品位分析仪和浮选过程计算机控制(续)[J].有色金属(冶炼部分),1978(8). |
| 作者姓名： | 刘凤翘 黄信和 |
| 摘 要： | 二、同位素浸入式品位分析仪用X射线管的流程荧光分析仪有许多优点,世界上许多选矿厂用它测定矿浆金属品位,并且与电子计算机结合用于过程控制,取得了显著成果。但是该分析仪也有不足之处,X射线是由高压发生器输出高压,加于 |
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