| 精确测定碳纳米管螺旋度的电子衍射方法 |
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| 引用本文： | 秦禄昌.精确测定碳纳米管螺旋度的电子衍射方法[J].电子显微学报,2007,26(4):342-355. |
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| 作者姓名： | 秦禄昌 |
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| 作者单位： | 北卡罗莱纳大学物理系,美国,北卡罗莱纳州 |
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| 摘 要： | 本文介绍精确测定碳纳米管原子结构的电子衍射方法.电子衍射方法利用碳纳米管的电子衍射图与碳纳米管螺旋指数(u,v)间的内在关系,可以从(a)衍射层线上的电子散射强度分布或(b)衍射层线间距的比例测定碳纳米管的螺旋指数.电子衍射方法是迄今为止测定碳纳米管的螺旋指数的最有效方法.电子衍射方法除具有结果精度高外,亦可用于测定多层碳纳米管的每层的螺旋指数.
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| 关 键 词： | 碳纳米管 电子衍射 纳米结构 纳米材料 |
| 文章编号： | 1000-6281（2007）04-0342-14 |
| 修稿时间： | 2007-05-31 |
Determination of the chirality of carbon nanotubes by electron diffraction |
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| QIN Lu-chang.Determination of the chirality of carbon nanotubes by electron diffraction[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2007,26(4):342-355. |
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| Authors: | QIN Lu-chang |
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| Affiliation: | W.M. Keck Laboratory for Atomic Imaging and Manipulation, Department of Physics and Astronomy, University of North Carolina at Chapel Hill, Chapel Hill, NC 27599-3255, USA |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | carbon nanotube electron diffraction nanostructure nanomaterial |
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