| （英）硫代硫酸钠浓度对电沉积制备铜锌锡硫硒薄膜性质的影响 |
| |
| 引用本文： | 葛杰,江锦春,胡古今,张小龙,左少华,杨立红,马建华,曹蒙,杨平雄,禇君浩.（英）硫代硫酸钠浓度对电沉积制备铜锌锡硫硒薄膜性质的影响[J].红外与毫米波学报,2013,32(4):289-293. |
| |
| 作者姓名： | 葛杰 江锦春 胡古今 张小龙 左少华 杨立红 马建华 曹蒙 杨平雄 禇君浩 |
| |
| 作者单位： | 华东师范大学 电子工程系,上海太阳能电池研究与发展中心,中国科学院上海技术物理研究所，红外物理国际重点实验室,华东师范大学 电子工程系,上海太阳能电池研究与发展中心,上海太阳能电池研究与发展中心,上海太阳能电池研究与发展中心,中国科学院上海技术物理研究所，红外物理国家重点实验室,华东师范大学 电子工程系,华东师范大学 电子工程系 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金项目（面上项目，重点项目，重大项目） |
| |
| 摘 要： | 采用后硒化Cu-Zn-Sn-S电沉积预制层的方法制备了铜锌锡硫硒薄膜，其中Cu-Zn-Sn-S预制层是通过含有不同浓度的硫代硫酸钠电解液电沉积而成的.实验发现，硒化前后薄膜的性质与硫代硫酸钠浓度密切相关.SEM，EDS，XRD，Raman和透射光谱分析表明，当硫代硫酸钠的浓度为5 mM时，沉积的薄膜形貌平整，晶粒明显，组分贫锌，具有单一的铜锌锡硫硒结构，且其带隙为1.11 eV; 在浓度高于5 mM下沉积的薄膜形貌粗糙并产生杂相硒化锡; 在浓度低于5 mM下沉积的薄膜组分严重贫锌并生成大量的Cu2SnSe3.
|
| 关 键 词： | 共电沉积 硫代硫酸钠浓度 硒化 铜锌锡硫硒薄膜 |
| 收稿时间： | 2012/8/24 0:00:00 |
| 修稿时间： | 4/2/2013 12:00:00 AM |
|
| 点击此处可从《红外与毫米波学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《红外与毫米波学报》下载全文 |
|
