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Cu2O半导体薄膜在酸性条件下的电化学沉积
引用本文:胡飞,陈镜昌,吴坚强,江毅,王群. Cu2O半导体薄膜在酸性条件下的电化学沉积[J]. 功能材料, 2011, 42(Z3): 488-491
作者姓名:胡飞  陈镜昌  吴坚强  江毅  王群
作者单位:1. 景德镇陶瓷学院材料科学与工程学院,江西,景德镇,333001
2. 香港理工大学工业系统工程学系,中国,香港
基金项目:江西省教育厅青年科学基金资助项目[GJJ09531]; 香港理工大学资助项目[G-YG77]
摘    要:在酸性溶液中在透明导电玻璃(ITO)基体上电化学沉积Cu2O薄膜.通过实验研究了电沉积工艺条件对电沉积Cu2O薄膜的影响.X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)对薄膜的微观结构和表面形貌进行了分析.结果表明,水浴温度较高时,酸性镀液中Ac-HAc共轭缓冲体系的反应速率提高,可以有效抑制铜单质的生长;镀液中铜离子的浓度...

关 键 词:氧化亚铜  电沉积  溶液温度  电流密度

Electrochemical deposition of cuprous oxides on ITO substrates in acid electrolyte
HU Fei,CHEN Jing-chang,WU Jian-qiang,JIANG Yi,WANG Qun. Electrochemical deposition of cuprous oxides on ITO substrates in acid electrolyte[J]. Journal of Functional Materials, 2011, 42(Z3): 488-491
Authors:HU Fei  CHEN Jing-chang  WU Jian-qiang  JIANG Yi  WANG Qun
Affiliation:HU Fei1,CHEN Jing-chang2,WU Jian-qiang1,JIANG Yi1,WANG Qun1(1.Department of Materials Science and Engineering,Jingdezhen Ceramic Institute,Jingdezhen 333001,China,2.Department of Industrial and Systems Engineering,the Hongkong Polytechnic University,Hongkong,China)
Abstract:
Keywords:cuprous oxide  electrodeposition  temperature  current density  
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