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硅基HgCdTe光伏器件的暗电流特性分析
引用本文:岳婷婷,殷菲,胡晓宁.硅基HgCdTe光伏器件的暗电流特性分析[J].激光与红外,2007,37(Z1).
作者姓名:岳婷婷  殷菲  胡晓宁
摘    要:对硅基HgCdTe中波器件进行了变温电流电压特性的测试和分析.测量温度从30K到240K,得到R0对数与温度的1000/T的实验曲线及拟合结果.同时选取60K、80K及110K下动态阻抗R与电压V的曲线进行拟合分析.研究表明在我们器件工作的温度点80K,零偏压附近主要的电流机制是产生复合电流和陷阱辅助隧穿电流.要提高器件的水平,必须降低陷阱辅助隧穿电流和产生复合电流对暗电流的贡献.

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Characterization Analysis of Dark Current in HgCdTe/Si Photodiodes
YUE Ting-ting,YIN Fei,HU Xiao-ning.Characterization Analysis of Dark Current in HgCdTe/Si Photodiodes[J].Laser & Infrared,2007,37(Z1).
Authors:YUE Ting-ting  YIN Fei  HU Xiao-ning
Abstract:
Keywords:
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