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会聚束电子衍射技术及其应用
引用本文:张一民,王青林.会聚束电子衍射技术及其应用[J].材料开发与应用,1994,9(5):36-39.
作者姓名:张一民  王青林
作者单位:洛阳工学院,武汉大学
摘    要:介绍了用CBED方法,测量晶体缺陷的几何参数、晶体的应变场及晶体取向关系。

关 键 词:CBED方法,缺陷,应变场,取向关系
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