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安规测试仪中绝缘电阻、泄漏电流测试系统设计
引用本文:何明松,刘桂礼,李东,王艳林. 安规测试仪中绝缘电阻、泄漏电流测试系统设计[J]. 仪器仪表标准化与计量, 2005, 0(6): 26-29
作者姓名:何明松  刘桂礼  李东  王艳林
作者单位:北京机械工业学院,电子信息工程系,北京市,100085
基金项目:科技部科研院所专项项目,项目号:2003EG119102,北京市重点实验室(机电系统测控)资助。
摘    要:介绍仪器仪表电气安全性测试仪中绝缘电阻、泄漏电流测试系统的原理及设计,该系统由单片机系统、测试回路和计算机系统组成,它不仅符合IEC61010-2001标准要求,在0MΩ-2000MΩ绝缘电阻和0.01mA-20mA泄漏电流的测量范围内,该系统测量误差<±1%(1σ),精度高,同时结合PC机和单片机系统为测控核心,使系统操作方便,也符合仪器虚拟化发展方向。

关 键 词:绝缘电阻  泄漏电流  测试
收稿时间:2005-09-15
修稿时间:2005-09-13

Design of Isolation-Resistance and Leaking-Current Test System in Electric Security Tester
He Mingsong,Liu Guili,Li Dong,Wang Yanlin. Design of Isolation-Resistance and Leaking-Current Test System in Electric Security Tester[J]. Instrument Standardization & Metrology, 2005, 0(6): 26-29
Authors:He Mingsong  Liu Guili  Li Dong  Wang Yanlin
Abstract:
Keywords:Isolation-Resistance Leaking-Current Test
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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