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具有分段P型埋层的Triple-RESURF LDMOS
引用本文:何乃龙,许杰,王浩,赵景川,王婷,朱文明,张森. 具有分段P型埋层的Triple-RESURF LDMOS[J]. 微电子学, 2023, 53(1): 134-138
作者姓名:何乃龙  许杰  王浩  赵景川  王婷  朱文明  张森
作者单位:无锡华润上华科技有限公司, 江苏 无锡 214061
基金项目:国家自然科学基金资助项目(62074030)
摘    要:提出了一种具有分段P型埋层的Triple-RESURF LDMOS(SETR LDMOS)。该结构将传统Triple-RESURF LDMOS(TR LDMOS)中均匀掺杂的P埋层漏端一侧做分段处理,使漂移区中P型杂质从源端到漏端呈现出近似阶梯掺杂的分布。这种优化能够平衡漏端底部剧烈的衬底辅助耗尽效应,提升器件的耐压性能;同时,器件正向导通状态下,对电流的传输路径也没有形成阻碍,能够维持较低的比导通电阻。流片结果表明,在漂移区长度均为65μm的情况下,SETR LDMOS的击穿电压能达到813 V,比传统TR LDMOS的击穿电压高51 V,且比导通电阻维持在7.3Ω·mm2

关 键 词:P型埋层  LDMOS  击穿电压  比导通电阻
收稿时间:2022-01-31

A Triple-RESURF LDMOS with Segmented P Buried Layer
HE Nailong,XU Jie,WANG Hao,ZHAO Jingchuan,WANG Ting,ZHU Wenming,ZHANG Sen. A Triple-RESURF LDMOS with Segmented P Buried Layer[J]. Microelectronics, 2023, 53(1): 134-138
Authors:HE Nailong  XU Jie  WANG Hao  ZHAO Jingchuan  WANG Ting  ZHU Wenming  ZHANG Sen
Affiliation:CSMC Technologies Corporation, Wuxi, Jiangsu 214061, P. R. China
Abstract:
Keywords:P buried layer   LDMOS   breakdown voltage   specific on-resistance
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