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| 数字集成电路的检测方法 | |
| 作者姓名： | 金正浩 高静 希林 |
| 摘 要： | 数字集成电路输出与输入之间的关系并不是放大关系,而是一种逻辑关系。输入条件满足时,输出高电平或低电平(只有这两种电平)。对数字集成电路进行检测,就是检测其输入引脚与输出引脚之间逻辑关系是否存在。由于数字集成电路种类太多,完成的逻辑功能又多种多样,逐项检测其指标高低是不现实的。比较简便易行的方法是:用万用表检测集成电路各引出脚与接地引脚之间的正、反向电阻值(即内部电阻值)并与正品的内部电阻值比较,便能很快确定被测集成电路的好坏。实践证明,这种检测数字集成电路好坏的方法是行之有效的,既适用于早期生产的TTL型数字… |
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