自动椭偏仪及其在LCD膜系测量中的应用 |
| |
引用本文: | 吕正德,朱鹤年,张百哲.自动椭偏仪及其在LCD膜系测量中的应用[J].激光与光电子学进展,1999(Z1). |
| |
作者姓名: | 吕正德 朱鹤年 张百哲 |
| |
作者单位: | 清华大学现代应用物理系!北京,100084,清华大学现代应用物理系!北京,100084,北京清华液晶技术工程研究中心!北京,100084 |
| |
摘 要: | 简要介绍了椭圆偏振测量术的基本原理,并对自动椭偏仪进行了介绍。由于自动椭偏仪具有无损探测、测量准确度高和测量迅速等特点,它非常适合用于LCD薄膜系统光学性质的在线测量。
|
关 键 词: | 椭圆偏振测量术 自动椭偏仪 LCD 薄膜 |
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|