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| 单片机控制的常用IC芯片故障测试仪 | |
| 作者姓名： | 宋跃 |
| 作者单位： | 湖南邵阳师专物理系 |
| 摘 要： | 介绍８０３１控制的常用下ＩＣ测试原理和硬件软件设计，本系统能完成ＴＴＬ７４，５４系列和ＣＭＯＳ４０００，４５００系列的数字集成电路，部分ＡＤＣ器件，部分ＤＡＣ器件，部分运算放大器等器件的测试。 |
| 关 键 词： | 单片机 测试原理 引脚选择控制 IC芯片 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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