双片二硫化钼纳米薄片的电子衍射分析 |
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引用本文: | 王元斐,陈友虎,唐捷,元金石,田天,李云朋,秦禄昌. 双片二硫化钼纳米薄片的电子衍射分析[J]. 电子显微学报, 2018, 0(1): 20-25 |
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作者姓名: | 王元斐 陈友虎 唐捷 元金石 田天 李云朋 秦禄昌 |
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作者单位: | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所;中国科学院大学;National Institute for Materials Science;安徽理工大学;University of North Carolinaat Chapel Hill |
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基金项目: | 国家自然科学基金资助项目(No.11474294);浙江省自然科学基金资助项目(No.LY14E020010) |
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摘 要: | 本文使用高分辨透射电子显微和电子衍射方法研究二硫化钼二维纳米材料薄片的微观结构。实验记录了样品在不同倾转角度下的衍射图,分析确认了衍射图中的一些衍射斑点随倾转角度加大而出现分裂的现象。本文通过一个空间几何模型来解释衍射图中衍射斑点分裂现象的成因,认为样品中含有两片互相之间有一定夹角的二硫化钼纳米薄片。两个二维纳米薄片分别对应分裂衍射斑点中的一组。经过模拟计算,得出这两片二硫化钼纳米薄片的夹二面角为156.6°(23.4°)。本文中的实验和模拟方法可以推广到对其它二维纳米材料薄片取向和相对空间方位的计算。
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关 键 词: | 二硫化钼 二维材料 电子衍射 原子结构 |
Electron diffraction analysis of MoS_2 double nano-sheets |
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Abstract: | |
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Keywords: | molybdenum disulfide two-dimensional materials electron diffraction atomic structure |
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