IGBT模块结温变化下的电磁干扰特性研究 |
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作者姓名: | 张江勇 杜明星 魏克新 |
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作者单位: | 天津理工大学天津市复杂系统控制理论及应用重点实验室 |
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摘 要: | 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)是电力变换装置中的重要器件,评估其可靠性至关重要。IGBT的结温及结温波动是造成其失效的主要原因,如何判定结温波动成为一个研究难点。通过分析IGBT的结构与结温特性、结温机理和结温波动对开关过程的影响及开关波形的频域模型,可以得出结温升高会导致IGBT模块工作过程中产生的电磁干扰变小,然后通过实验验证。实验测试结果表明,基于电磁干扰强度的结温估计或结温波动估计方法切实可行。
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