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PIN型快速恢复二极管的研究与应用
引用本文:韦文生,戴瑜兴,张正江,李晶. PIN型快速恢复二极管的研究与应用[J]. 材料导报, 2012, 26(19)
作者姓名:韦文生  戴瑜兴  张正江  李晶
作者单位:温州大学物理与电子信息工程学院,温州,325035
摘    要:剖析了改善快速恢复二极管(Fast recovery diode,FRD)反向恢复性能的发射率控制及少子寿命控制的实施方案.探究了间接带隙半导体硅FRD与SiGe、GaN、SiC等直接带隙半导体FRD的反向恢复性能,介绍了SiC的欧姆接触技术.比较了硅FRD与碳化硅FRD的实际应用效果,发现前者的反向及动态特性均落后于后者的性能,后者特别适合于高频、高电压、大功率技术领域的应用.

关 键 词:快速恢复二极管  发射率控制  少子寿命控制    碳化硅

Investigations and Applications of PIN Type Fast Recovery Diodes
WEI Wensheng , DAI Yuxing , ZHANG Zhengjiang , LI Jing. Investigations and Applications of PIN Type Fast Recovery Diodes[J]. Materials Review, 2012, 26(19)
Authors:WEI Wensheng    DAI Yuxing    ZHANG Zhengjiang    LI Jing
Abstract:
Keywords:
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