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氧分压对TiO2膜结构与光学性质的影响
引用本文:朱凤,赵坤,赵夔,王莉芳,全胜文. 氧分压对TiO2膜结构与光学性质的影响[J]. 膜科学与技术, 2002, 22(3): 29-34
作者姓名:朱凤  赵坤  赵夔  王莉芳  全胜文
作者单位:北京大学重离子物理研究所超导腔组,北京,100871
基金项目:中国节能投资公司资助 (2 0 0 0 0 412 )
摘    要:报道了用反应溅射法制备TiO2 膜的实验研究 .详细研究了膜的沉积、膜结构及其光学性质 ,随溅射氧分压的变化 .随氧分压由 6× 10 - 2 Pa增加到 9× 10 - 2 Pa时 ,晶体结构由金红石变到锐钛矿 ,氧分压超过 9× 10 - 2 Pa时趋向于无定形结构 .与膜结构密切相关的折射率n随氧分压的增大由 2 .4 4变到 1.96 ,禁带宽度Eg 则由大变小 ,然后再增大的变化 (3.4 1→ 3.2 6→3.4 2 ) .

关 键 词:反应溅射  TiO2薄膜  氧分压  折射率  禁带宽度
文章编号:1007-8924(2002)03-0029-06
修稿时间:2001-04-24

Structural and optical characterization of TiO2 films deposited by reactive magnetron sputtering at different oxygen pressures
ZHU Feng,ZHAO Kun,ZHAO Kui,WANG Lifang,QUAN Shengwen. Structural and optical characterization of TiO2 films deposited by reactive magnetron sputtering at different oxygen pressures[J]. Membrane Science and Technology, 2002, 22(3): 29-34
Authors:ZHU Feng  ZHAO Kun  ZHAO Kui  WANG Lifang  QUAN Shengwen
Abstract:
Keywords:reactive sputtering  TiO_2 thin film  oxygen partial pressure  refractive index  band gap energy
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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