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| 大型复杂电子系统的紧缩可靠性试验解决方案 | |
| 引用本文： | 马跃进,汪凯蔚,沈峥嵘,黄永华.大型复杂电子系统的紧缩可靠性试验解决方案[J].电子产品可靠性与环境试验,2019,37(4). |
| 作者姓名： | 马跃进 汪凯蔚 沈峥嵘 黄永华 |
| 作者单位： | 中国人民解放军93131部队,北京,100089;工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州,510610 |
| 基金项目： | 广东省科技厅项目;国家电子信息产品可靠性与环境工程技术研究中心培育项目 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 紧缩系统 可靠性试验方案 复杂电子系统 |
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