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直接数字式频率合成器辐射效应敏感性分析
引用本文:卢向军,王晓晗,罗宏伟,王小强,费武雄,孙宇,吕宏峰,刘焱.直接数字式频率合成器辐射效应敏感性分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2015,33(2):48-51.
作者姓名:卢向军  王晓晗  罗宏伟  王小强  费武雄  孙宇  吕宏峰  刘焱
作者单位:工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州,510610
摘    要:从直接数字式频率合成器(DDS)的结构出发,对DDS器件的时钟产生单元、相位累加与相位幅度转换器和数模转换器进行了总剂量效应、单粒子效应的敏感性分析。分析认为:辐照前后DDS输出的无杂散动态范围,以及关断功耗是总剂量相对较为敏感的参数;单粒子效应对DDS输出波形的影响为频率改变、相位改变和幅度改变,以及造成输出信号出现毛刺现象,进而影响器件在系统中的功能。

关 键 词:直接数字式频率合成器  总剂量效应  单粒子效应  敏感性分析

The Sensitivity Analysis of the Irradiation Effect of DDS
LU Xiang-jun;WANG Xiao-han;LUO Hong-wei;WANG Xiao-qiang;FEI Wu-xiong;SUN Yu;LV Hong-feng;LIU Yan.The Sensitivity Analysis of the Irradiation Effect of DDS[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2015,33(2):48-51.
Authors:LU Xiang-jun;WANG Xiao-han;LUO Hong-wei;WANG Xiao-qiang;FEI Wu-xiong;SUN Yu;LV Hong-feng;LIU Yan
Affiliation:LU Xiang-jun;WANG Xiao-han;LUO Hong-wei;WANG Xiao-qiang;FEI Wu-xiong;SUN Yu;LV Hong-feng;LIU Yan;CEPREI;
Abstract:
Keywords:
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