| 新一代GPS操作技术在纳米粗糙度评定中的应用 |
| |
| 引用本文： | 郭三刺,张琳娜,赵凤霞.新一代GPS操作技术在纳米粗糙度评定中的应用[J].制造技术与机床,2008(1):32-35. |
| |
| 作者姓名： | 郭三刺 张琳娜 赵凤霞 |
| |
| 作者单位： | 郑州大学机械工程学院,河南,郑州,450002 |
| |
| 基金项目： | 河南省科技攻关项目
,
河南省教育厅科研项目
,
河南省科技厅科技攻关项目 |
| |
| 摘 要： | 基于新一代GPS标准体系中的操作和操作算子技术对纳米粗糙度的测量与评定规范进行了研究,以离线分析扫描电子显微镜（SEM）图像方法测量与评定线边缘粗糙度为例给出了相应的操作和操作算子,为规范纳米粗糙度的测量和评定过程提供了一条可行之路。
|
| 关 键 词： | 产品几何技术规范(GPS) 纳米粗糙度 操作 操作算子 扫描电子显微镜(SEM) 操作技术 纳米 线边缘粗糙度 应用 Evaluation Roughness Nanometer Technology Operation Generation 过程 评定规范 图像方法 电子显微镜 扫描 离线分析 研究 测量 操作算子 标准体系 |
| 收稿时间： | 2007-10-24 |
| 修稿时间： | 2007年10月24 |
Application of the New Generation GPS Operation Technology in Nanometer Roughness Evaluation |
| |
| GUO Sanci,ZHANG Linna,ZHAO Fengxia.Application of the New Generation GPS Operation Technology in Nanometer Roughness Evaluation[J].Manufacturing Technology & Machine Tool,2008(1):32-35. |
| |
| Authors: | GUO Sanci ZHANG Linna ZHAO Fengxia |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | GPS Nanometer Roughness Operation Operator Scanning Electron Microscope { SEM } |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
