| 基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究 |
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| 引用本文： | 江坤,高俊强.基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究[J].国外电子测量技术,2013,32(5):41-43,56. |
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| 作者姓名： | 江坤 高俊强 |
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| 作者单位： | 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 桂林541004 |
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| 摘 要： | 随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。
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| 关 键 词： | IEEE1149.7标准 TAP控制器命令 边界扫描 测试控制器 |
Commands of TAP controller based on IEEE1149.7 |
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| Jiang Kun
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Gao Junqiang.Commands of TAP controller based on IEEE1149.7[J].Foreign Electronic Measurement Technology,2013,32(5):41-43,56. |
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| Authors: | Jiang Kun Gao Junqiang |
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| Affiliation: | Jiang Kun Gao Junqiang (Institute of Electronic Engineering and Automation inGuilin University of Electronic Technology,Guilin 541004,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IEEE 1149 7 the commands of TAP controller boundary scan test controller |
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