| TD-LTE测试系统载波泄漏测量不确定度评定 |
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| 引用本文： | 徐波. TD-LTE测试系统载波泄漏测量不确定度评定[J]. 国外电子测量技术, 2013, 32(5): 49-51 |
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| 作者姓名： | 徐波 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 蚌埠233006 |
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| 摘 要： | TD-LTE终端载波泄漏是由交调引起的干扰,是TD-LTE射频一致性测试系统的一个非常重要的技术指标,通常可以用TD-LTE无线终端综合测试仪来测量。本文阐述了如何运用数学模型,开展载波泄漏的策略不确定度评定的方法。根据实验室的测量环境及测量仪器设备,依据评定准则,重点讨论了误差产生来源,确定了影响载波泄漏测试稳定性的主要因素,给出了相应不确定度的计算方法。最终实现了TD-LTE终端载波泄漏测量不确定度的评定,并给出了测量结果。
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| 关 键 词： | TD-LTE 载波泄漏 测量不确定度 评定 |
Uncertainty of measurement assess for carrier leakage of TD-LTE testing system |
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| Xu Bo. Uncertainty of measurement assess for carrier leakage of TD-LTE testing system[J]. Foreign Electronic Measurement Technology, 2013, 32(5): 49-51 |
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| Authors: | Xu Bo |
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| Affiliation: | Xu Bo (The 41st Institute of China Electronic Technology Group Corporation,Bengbu 233006,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | TD-LTE carrier leakage uncertainty of measurement assess |
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