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提高S波段大功率晶体管内匹配电容的可靠性
引用本文:潘宏菽,潘茹,姚素霞,梁士领,苏丽娟. 提高S波段大功率晶体管内匹配电容的可靠性[J]. 微纳电子技术, 2000, 0(6)
作者姓名:潘宏菽  潘茹  姚素霞  梁士领  苏丽娟
作者单位:河北半导体研究所!河北石家庄050002
摘    要:对影响 S波段大功率晶体管内匹配电容的质量问题进行了分析 ,并给出了改进方法 ,提高了内匹配大功率晶体管的稳定性和可靠性。

关 键 词:内匹配  MOM电容  粘附能力  表面改性

Improving the reliability of internal matching capacitor in S-band high power transistor
PAN Hong-shu,PAN Ru,YAO Su-xia,LIANG Shi-ling,SU Li-juan. Improving the reliability of internal matching capacitor in S-band high power transistor[J]. Micronanoelectronic Technology, 2000, 0(6)
Authors:PAN Hong-shu  PAN Ru  YAO Su-xia  LIANG Shi-ling  SU Li-juan
Abstract:In this paper,the quality problem of internal matching capacitor in S-band high power transistor is analyzed.The improving method is given.The stability and reliability of internal matching high power transistor are improved.
Keywords:internal match  MOM capacitor  sticking ability  surface modificatioP
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