| 铜纳米线阵列显微结构的表征和控制 |
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| 引用本文： | 牛高,谭秀兰,韩尚君,罗江山.铜纳米线阵列显微结构的表征和控制[J].功能材料,2011,42(Z4):659-661. |
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| 作者姓名： | 牛高 谭秀兰 韩尚君 罗江山 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目，等离子体物理国防科技重点实验室基金资助项目 |
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| 摘 要： | 采用多孔氧化铝(AAO)模板脉冲电沉积法制备了强辐射源用铜纳米线阵列材料,并用扫描电子显微镜(SEM)、能谱(EDS)和X射线衍射(XRD)对其进行了结构袁征.结果表明电沉积的峰值电流强度和辅助阴极可以影响铜纳米线的表面质量、长度分布均匀性和微区长度起伏.减小峰值电流强度,可以明显改善单根铜纳米线的表面质量,但是对铜纳...
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| 关 键 词： | 显微结构 铜纳米线阵列 电沉积 阳极氧化铝 |
Characteristic and controlling to the microstructure of Cu nanowire arrays |
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| NIU Gao
,
TAN Xiu-lan
,
HAN Shang-jun
,
LUO Jiang-shan.Characteristic and controlling to the microstructure of Cu nanowire arrays[J].Journal of Functional Materials,2011,42(Z4):659-661. |
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| Authors: | NIU Gao TAN Xiu-lan HAN Shang-jun LUO Jiang-shan |
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