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Impact of Total Ionizing Dose on Bulk Built-In Current Sensors with Dynamic Storage Cell |
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| Authors: | Alexandre Simionovski Rafael G. Vaz Odair L. Gonçalez Gilson Wirth |
| Affiliation: | 1. Departamento de Engenharia Elétrica, PPGEE, Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS), Porto Alegre, Brazil 2. Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial, Instituto de Estudos Avan?ados (IEAv), S?o José dos Campos, Brazil 3. Departamento de Engenharia Elétrica, PPGEE and PGMICRO, Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS), Porto Alegre, Brazil |
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