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采用USP-CVD沉积SnO2透明导电膜--F、Sb掺杂及特性研究
引用本文:丁尔峰,崔容强,周之斌,赵亮,于化丛,赵占霞.采用USP-CVD沉积SnO2透明导电膜--F、Sb掺杂及特性研究[J].电源技术,2004,28(12):779-783.
作者姓名:丁尔峰  崔容强  周之斌  赵亮  于化丛  赵占霞
作者单位:上海交通大学,物理系,太阳能研究所,上海,200240
摘    要:以F、Sb掺杂,采用超声雾化喷涂化学气相沉积工艺制备出二氧化锡透明导电膜。对SnO2∶F薄膜的沉积工艺进行了研究,探索出最佳的工艺条件,沉积出方块电阻低达6 赘/□左右的高透过率透明导电薄膜,其可见光平均透过率可以达到85%。分析了HF和NH4F掺杂的不同点。对在两种最佳工艺条件下沉积的膜的结构、电学性质进行了研究。对SnO2∶Sb薄膜的电学性质进行了研究,用X射线衍射方法分析了在同一温度下,不同Sb掺杂浓度的膜的结构。并对薄膜的透过率、折射率及光学带隙等光学性质进行了分析。

关 键 词:超声雾化喷涂化学气相沉积(USP-CVD)  SnO2∶F  SnO2∶Sb  NH4F  HF
文章编号:1002-087X(2004)12-0779-05
修稿时间:2004年2月27日

SnO2 thin film by an ultrasonic spray CVD process--doped with Sb and F
DING Er-feng,CUI Rong-qiang,ZHOU Zhi-bin,ZHAO Liang,YU Hua-cong,ZHAO Zhan-xia.SnO2 thin film by an ultrasonic spray CVD process--doped with Sb and F[J].Chinese Journal of Power Sources,2004,28(12):779-783.
Authors:DING Er-feng  CUI Rong-qiang  ZHOU Zhi-bin  ZHAO Liang  YU Hua-cong  ZHAO Zhan-xia
Abstract:
Keywords:
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