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| 无源光器件的偏振相关损耗测量 | |
| 引用本文： | GunnarStolze. 无源光器件的偏振相关损耗测量[J]. 世界电子元器件, 2003, 0(10): 74-75 |
| 作者姓名： | GunnarStolze |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 介绍 偏振相关损耗(PDL)现已成为描述无源光器件特性的一项标准指标.当前主要有两种PDL测量方法:偏振扫描法和四状态法,后者一般也被称作Mueller法.本文将对这两种测量方法进行简要的介绍,概要说明其主要难题和主要的误差来源,并对其在当前无源器件测量中的实际应用进行比较. |
| 关 键 词： | 无源光器件 偏振相关损耗 偏振扫描法 Mueller法 测量法 |
Measuring Polarization Dependent Loss of Passive Optical Components |
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