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射频磁控溅射沉积ZrO2—8%(wt)Y2O3薄膜XPS分析
引用本文:黄宁康,蒋锦江.射频磁控溅射沉积ZrO2—8%(wt)Y2O3薄膜XPS分析[J].薄膜科学与技术,1993,6(2):164-169.
作者姓名:黄宁康  蒋锦江
摘    要:

关 键 词:射频  磁控溅射  ZrO2-Y2O3  XPS  薄膜
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