| 量子芯片测评技术综述 |
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| 引用本文： | 何明,刘晓楠,王俊超.量子芯片测评技术综述[J].计算机系统应用,2022,31(12):1-9. |
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| 作者姓名： | 何明 刘晓楠 王俊超 |
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| 作者单位： | 信息工程大学 网络空间安全学院, 郑州 450001 |
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| 基金项目： | 国家超算郑州中心创新生态系统建设专项(201400210200) |
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| 摘 要： | 在研制量子芯片时对其性能进行测评,以校准量子算法实际执行结果与理论结果的拟合程度是量子计算优于经典计算的重要一步.然而,目前国内外对量子芯片性能测评方面并没有统一的基准测试,对于量子芯片局部指标的测评标准容易导致人们对芯片整体性能的误解.鉴于此,本文首先简述现有的量子芯片性能指标,其次通过对测评方法进行分类,概述现今量子芯片测评方法,最后总结量子芯片测评技术的现存问题并对未来的测评技术进行展望.本综述可为从事相关工作的人员进行查阅提供便利.
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| 关 键 词： | 量子芯片 量子基准测试 量子计算优势 量子保真度 量子体积 |
| 收稿时间： | 2022/3/15 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2022/4/19 0:00:00 |
Overview on Quantum Chip Evaluation Technology |
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| HE Ming,LIU Xiao-Nan,WANG Jun-Chao.Overview on Quantum Chip Evaluation Technology[J].Computer Systems& Applications,2022,31(12):1-9. |
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| Authors: | HE Ming LIU Xiao-Nan WANG Jun-Chao |
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| Affiliation: | School of Cyberspace Security, Information Engineering University, Zhengzhou 450001, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | quantum chip quantum benchmark quantum computing advantage quantum fidelity quantum volume |
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