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| 一种数模转换器的动态闩锁试验方法 | |
| 引用本文： | 姜汝栋,邵振宇. 一种数模转换器的动态闩锁试验方法[J]. 电子与封装, 2019, 19(2) |
| 作者姓名： | 姜汝栋 邵振宇 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072 |
| 摘 要： | CMOS器件结构会引起闩锁效应,国内外目前有相关标准来检测集成电路的抗闩锁能力,但大部分集成电路的闩锁试验都是在电路静态工作下进行试验。该论文根据相关试验标准,结合典型集成电路动态工作情况,研究集成电路的动态闩锁能力。 |
| 关 键 词： | 互补金属氧化物半导体 集成电路 动态闩锁 |
Dynamic Latch Test Method of Ditital-to-analog Converter |
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