| 小角X光散射法测定疏水二氧化硅气凝胶疏水层厚度 |
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| 引用本文： | 任洪波,杜凯,张林,万小波,张勇. 小角X光散射法测定疏水二氧化硅气凝胶疏水层厚度[J]. 稀有金属材料与工程, 2008, 37(Z2): 28-30 |
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| 作者姓名： | 任洪波 杜凯 张林 万小波 张勇 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900 |
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| 基金项目： | 国家高技术项目(2004AA844010)、中国工程物理研究院科学技术基金(20040544)资助 |
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| 摘 要： | 采用小角X光散射(SAXS)研究了疏水SiO2气凝胶X光散射特性.运用Porod方法、Shull-Roess平均粒径法研究了气凝胶疏水层厚度.计算结果表明气凝胶疏水层厚度在0.2～0.3mm之间,说明气凝胶的疏水层仅仅是由一层改性剂分子所组成,其凝胶骨架颗粒表面被疏水的甲基基团所覆盖.
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| 关 键 词： | 小角散射 二氧化硅 气凝胶 疏水层厚度 |
| 文章编号： | 1002-185X(2008)S2-028-03 |
| 修稿时间： | 2007-11-21 |
The Characterization of Hydrophobic Layer Thickness of Silica Aerogel by Means of SAXS |
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| Ren Hongbo,Du Kai,Zhang Lin,Wan Xiaobo,Zhang Yong. The Characterization of Hydrophobic Layer Thickness of Silica Aerogel by Means of SAXS[J]. Rare Metal Materials and Engineering, 2008, 37(Z2): 28-30 |
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| Authors: | Ren Hongbo Du Kai Zhang Lin Wan Xiaobo Zhang Yong |
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