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基于轻敲模式AFM的纳米振动表征方法
引用本文:徐临燕,栗大超,刘瑞鹏,邱晗,傅星,胡小唐,张文栋.基于轻敲模式AFM的纳米振动表征方法[J].压电与声光,2010,32(4).
作者姓名:徐临燕  栗大超  刘瑞鹏  邱晗  傅星  胡小唐  张文栋
作者单位:1. 天津大学,精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
2. 天津航海仪器研究所,天津,300131
3. 中北大学电子测试技术国家重点实验室,山西,太原,030051
基金项目:科技部国际科技合作与交流专项基金资助项目,国家自然科学重点基金资助项目 
摘    要:针对纳米振动测量方法中存在的间接性、低分辨率、低带宽等局限性,建立了原子力显微镜(AFM)的轻敲模式下探针与振动样品间相互作用的振动系统模型,采用Runge-Kutta数值积分方法分析了AFM测振技术的可行性和工作带宽.使用静电激励的双端固支纳米梁作为测试结构,采用AFM轻敲模式测试了样品的幅频响应特性.同时采用显微激光多普勒测振系统进行了比对测试,测量结果与AFM轻敲力曲线模式的测量结果相符,也表现出AFM轻敲模式的测量误差具有与测试样品相关的频率特性.

关 键 词:纳机电系统  纳米梁谐振器  离面振动  原子力显微镜(AFM)  轻敲模式

Characterization of Nanoscale Vibration Using Tapping Mode AFM
XU Linyan,LI Dachao,LIU Ruipeng,QIU Han,FU Xing,HU Xiaotang,ZHANG Wendong.Characterization of Nanoscale Vibration Using Tapping Mode AFM[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2010,32(4).
Authors:XU Linyan  LI Dachao  LIU Ruipeng  QIU Han  FU Xing  HU Xiaotang  ZHANG Wendong
Abstract:
Keywords:
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