首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

硅纳米线的合成及表征
引用本文:裴立宅,唐元洪,陈扬文,张勇,郭池. 硅纳米线的合成及表征[J]. 半导体光电, 2005, 26(3): 172-176
作者姓名:裴立宅  唐元洪  陈扬文  张勇  郭池
作者单位:湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,材料科学与工程学院,湖南,长沙,410082
摘    要:目前已通过气-液-固生长机理及氧化物辅助生长等机理合成了大量硅纳米线,电镜、能量色散X射线分析、X射线光电子能谱、拉曼光谱、近边X射线吸收精细结构光谱、I-V测量、光致发光、场发射、电子输运测量等是表征硅纳米线的有效手段,介绍了硅纳米线在合成及表征方面的最新进展,并对其发展做了展望.

关 键 词:硅纳米线  掺杂  表征  性能
文章编号:1001-5868(2005)03-0172-05
修稿时间:2004-09-09

Synthesis and Characterizations on Si Nanowires
PEI Li-zhai,TANG Yuan-hong,CHEN Yang-wen,ZHANG Yong,GUO Chi. Synthesis and Characterizations on Si Nanowires[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2005, 26(3): 172-176
Authors:PEI Li-zhai  TANG Yuan-hong  CHEN Yang-wen  ZHANG Yong  GUO Chi
Abstract:At present,a great quantity of Si nanowires are synthesized by VLS growth mechanism and oxide-assisted growth mechanism.Si nanowire is effectively studied by electron microscopy,energy dispersive X-ray analysis,X-ray photoelectron energy spectrum,Raman spectrum,near edge X-ray absorption fine structure spectrum,I-V,photoluminescence,field-emission and electrical transport measurement.The recent progress on the synthesis and characterizations of Si nanowires are introduced and development prospect is also forecacted.
Keywords:Si nanowire  doping  characterization  properties
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号