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化学液相沉积法制备AlxOy薄膜
引用本文:饶文雄,孙捷,宋昌烈,李成仁,李淑凤,胡礼中. 化学液相沉积法制备AlxOy薄膜[J]. 哈尔滨工业大学学报, 2003, 35(6): 668-670
作者姓名:饶文雄  孙捷  宋昌烈  李成仁  李淑凤  胡礼中
作者单位:大连理工大学物理系,辽宁,大连,116024
基金项目:国家自然科学基金资助项目(69787001; 69889701).
摘    要:给出了用化学液相沉积法(CLPD)制备A1xOy/Si薄膜的方法,室温下生长2h得到A1xOy/Si薄膜,其退火温度为1000℃,退火时间2h.对薄膜的显微硬度、成分和结构进行了检测和分析.结果表明,薄膜的显微硬度在退火前为5202.0N/mm^2,退火后为14533.5N/mm^2,增加近3倍;高温退火去掉了膜内的0H^-1,同时使薄膜晶化,晶体薄膜的O/A1比例为1.3.

关 键 词:化学液相沉积法 氧化铝薄膜 光波导放大器 生长液 硅 双水解过程 退火 显微硬度 晶化
文章编号:0367-6234(2003)06-0668-03
修稿时间:2002-07-26

Preparation of thin aluminum oxide films by chemical liquid phase deposition
RAO Wen xiong,SUN Jie,SONG Chang lie,LI Cheng ren,LI Shu feng,HU Li zhong. Preparation of thin aluminum oxide films by chemical liquid phase deposition[J]. Journal of Harbin Institute of Technology, 2003, 35(6): 668-670
Authors:RAO Wen xiong  SUN Jie  SONG Chang lie  LI Cheng ren  LI Shu feng  HU Li zhong
Abstract:
Keywords:chemical liquid phase deposition  alumina film  erbium
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