HIRF条件下机载电子设备屏蔽性能研究

机载电子设备在飞机飞行中容易受到高强度辐射场(HIRF)的干扰，设备壳体电磁屏蔽性能的好坏关系到其功能的发挥和飞行安全。本文采用平面波辐照的方式模拟HIRF环境，并以某机载电子设备为研究对象开展仿真试验。建立模型以后，首先，从时域和频域的角度测试得到了设备内部中心线探针上的电场强度，结果符合电磁波传播规律和谐振腔理论；然后，通过计算得出了探针处的屏蔽效能曲线，分析了屏蔽效能与入射面板以及HIRF频率的关系；最后，通过设备表面的电场强度分布情况进一步验证了屏蔽性能的规律。所得结论对机载电子设备屏蔽体的设计和HIRF防护具有一定的理论和实际意义。