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| 岩石土壤中痕量钴的直接光谱测定法 | |
| 作者姓名： | 陈寿根 刘进锜 |
| 作者单位： | 冶金部地质研究所(陈寿根)，冶金部地质研究所(刘进锜) |
| 摘 要： | 岩石土壤中痕量钴的分析,用发射光谱法进行直接测定是个较为简捷、可靠的方法.但常规的测定法和ICP光电直读法测定下限都在1ppm以上,直接粉末进样的ICP法检出限较低,也只能达到0.1ppm.本方法利用AgCl作热化学反应剂,在室电极中与钴形成易挥发的氯化钴,极大地提高了钴的蒸发速度,从而降低了检出限.可以直接测定岩石土壤中0.05ppm的钴.浓度为ppm级时,测定的相对标准偏差一般不超过11%. |
| 关 键 词： | 岩石土壤 痕量钴 直接光 反应剂 测定法 碳线 上电极 碳粉 摄谱 线强度 |
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