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| 基于扫描链测试的HDL编码规范分析与研究 | |
| 引用本文： | 罗闳訚.基于扫描链测试的HDL编码规范分析与研究[J].福建电脑,2013(10):58-61,158. |
| 作者姓名： | 罗闳訚 |
| 作者单位： | 福建建新大陆电脑股份有限公司,福建福州350015 |
| 摘 要： | 集成电路制造过程的缺陷会使部分芯片失效,因此需要通过高效的自动测试方法来对芯片的正确性进行检测.该文针对集成电路自动测试方法中的扫描链测试,提出了六条HDL编码规范,用于提高测试覆盖率从而提高测试效率.把这些编码规范应用到实例设计中,实验结果显示,遵循全部规范时测试覆盖率可达到100％,而不遵循其中的任一规范时测试覆盖率均有一定程度的减少.通过对各种情况下的故障分布进行分析表明,在前端设计时遵循这些HDL编码规范,能以最小的性能牺牲,获得较高的测试覆盖率. |
| 关 键 词： | 可测性设计 扫描链测试 测试覆盖率 HDL编码规范 |
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