| 计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究 |
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| 引用本文： | 刘冠军,易晓山,柳新民. 计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究[J]. 计算机工程与应用, 2002, 38(17): 16-17,51 |
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| 作者姓名： | 刘冠军 易晓山 柳新民 |
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| 作者单位： | 国防科技大学机电工程与自动化学院,长沙,410073 |
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| 摘 要： | 基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。
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| 关 键 词： | 计算机辅助测试性设计 边界扫描 测试性优化设计 |
| 文章编号： | 1002-8331-(2002)17-0016-02 |
Research on Testability Improvement Maximizing in Computer-aided Designing for Testability |
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| Liu Guanjun Yi Xiaoshan Liu Xinmin. Research on Testability Improvement Maximizing in Computer-aided Designing for Testability[J]. Computer Engineering and Applications, 2002, 38(17): 16-17,51 |
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| Authors: | Liu Guanjun Yi Xiaoshan Liu Xinmin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Computer-aided Designing for Testability Boundary Scan Optimal Designing for Testability |
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