| 低压变频器中的温升及其试验方法 |
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| 引用本文： | 刘霞 徐和平. 低压变频器中的温升及其试验方法[J]. 变频器世界, 2006, 0(4): 97-100 |
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| 作者姓名： | 刘霞 徐和平 |
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| 作者单位： | 天津电气传动设计研究所，天津电气传动设计研究所 |
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| 摘 要： | 低压变频器（交流进线l000V以下）越来越广泛的深入到人们的生活和生产中，我们正确认识及使用变频器，尤其是其工作环境以及散热问题，对变频器的可靠性的影响是非常大的。本文分析了变频器发热的主要原因，并重点介绍了变频器的温升重点部位及试验方法，以利于变频器用户掌握了解变频器温升及温升试验。
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| 关 键 词： | 变频器 发热 温升试验 |
| 文章编号： | 1561-0330（2006）04-0097-04 |
Test Method of the Low-voltage Transducer Temperature Rise |
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| Liu Xia, Xu Heping. Test Method of the Low-voltage Transducer Temperature Rise[J]. THE WORLD OF INVERTERS, 2006, 0(4): 97-100 |
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| Authors: | Liu Xia Xu Heping |
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| Affiliation: | Liu Xia Xu Heping |
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| Abstract: | As low-voltage transducer below a.c. 1000V prevails in our manufacturing and lives, it is vital for us to recognize and use transducer correctly, especially its operate condition and heat radiation. In order to make users aware of the transduceri^-s heat radiation and temperature rise test, this text analyses the main reason of the transduceri^-s heat radiation, accentuates the crucial parts of heat radiation as well as the test method. |
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| Keywords: | Transducer Heat radiation Temperature rise test |
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