首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

超深亚微米非对称Halo LDD低功耗新器件的研究分析
引用本文:田豫,黄如.超深亚微米非对称Halo LDD低功耗新器件的研究分析[J].半导体学报,2003,24(5):510-515.
作者姓名:田豫  黄如
作者单位:北京大学微电子所,北京100871
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);2000036501;
摘    要:提出了一种新的器件结构——非对称Halo L DD低功耗器件,该器件可以很好地抑制短沟效应,尤其可以很好地改善DIBL效应、热载流子效应以及降低功耗等,是低功耗高集成度电路的优选结构之一.分析了非对称HaloL DD器件的主要特性,并将其与常规结构、非对称L DD结构、非对称Halo结构的器件进行了比较并进行了参数优化分析.

关 键 词:非对称    Halo  LDD    低功耗    模拟
文章编号:0253-4177(2003)05-0510-06
修稿时间:2002年6月20日

Simulation and Analysis of Ultra Deep Sub-Micron Asymmetrical Halo LDD Low Power Device
Tian Yu and Huang Ru.Simulation and Analysis of Ultra Deep Sub-Micron Asymmetrical Halo LDD Low Power Device[J].Chinese Journal of Semiconductors,2003,24(5):510-515.
Authors:Tian Yu and Huang Ru
Abstract:A novel n-MOSFET device structure,named as asymmetrical Halo LDD Low Power device,is proposed.The device not only can effectively suppress the short-channel effect (SCE),the drain-induced barrier lowering (DIBL) and hot carrier effect,but also attribute to reduce power dissipation.Aiming at the better application in the low power circuit,device performance of asymmetrical Halo LDD structure is investigated in comparing with normal device,asymmetrical Halo device and asymmetrical LDD device.Furthermore,the optimal structure is analyzed by changing the key device parameters.
Keywords:asymmetry  Halo LDD  low power  simulation
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号