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电致发光成像在晶体硅电池和组件质量监测中的应用
引用本文:杨畅民,张豪,黄国锋.电致发光成像在晶体硅电池和组件质量监测中的应用[J].中国建设信息,2009(6):42-43,45.
作者姓名:杨畅民  张豪  黄国锋
作者单位:[1]西安理工大学理学院 [2]陕西众森电能科技公司
摘    要:本文根据晶体硅光伏电池的电致发光成像理论,采用红外相机拍摄观测晶体硅光伏电池的电致发光图像。,在大量实验中选取了一些典型图像,如硅片材料内在缺陷,烧结、污染、刻蚀引入的缺陷以及短路、裂纹、断栅等缺陷。实验结果表明,电致发光成像检测方法结合I—V测试方法,可以更快速、准确地找到缺陷位置及判定缺陷类型、成因,对监测晶体硅光伏电池及组件的生产工艺具有重要意义。

关 键 词:电致发光成像  晶体硅电池  缺陷检测
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