电致发光成像在晶体硅电池和组件质量监测中的应用 |
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引用本文: | 杨畅民,张豪,黄国锋.电致发光成像在晶体硅电池和组件质量监测中的应用[J].中国建设信息,2009(6):42-43,45. |
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作者姓名: | 杨畅民 张豪 黄国锋 |
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作者单位: | [1]西安理工大学理学院 [2]陕西众森电能科技公司 |
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摘 要: | 本文根据晶体硅光伏电池的电致发光成像理论,采用红外相机拍摄观测晶体硅光伏电池的电致发光图像。,在大量实验中选取了一些典型图像,如硅片材料内在缺陷,烧结、污染、刻蚀引入的缺陷以及短路、裂纹、断栅等缺陷。实验结果表明,电致发光成像检测方法结合I—V测试方法,可以更快速、准确地找到缺陷位置及判定缺陷类型、成因,对监测晶体硅光伏电池及组件的生产工艺具有重要意义。
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关 键 词: | 电致发光成像 晶体硅电池 缺陷检测 |
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