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溶胶-凝胶法制备PST铁电薄膜
引用本文:邓传益,谢甜甜,李元昕,姜胜林.溶胶-凝胶法制备PST铁电薄膜[J].中国有色金属学报,2004,14(Z2):492-495.
作者姓名:邓传益  谢甜甜  李元昕  姜胜林
作者单位:华中科技大学,电子科学与技术系,武汉,430074
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:为了制备非致冷红外焦平面阵列,采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备出了PST铁电薄膜材料,研究了PST薄膜的结构及介电、铁电性能.XRD谱分析显示,PST膜呈现纯钙钛矿结构.SEM电镜照片显示,PST膜厚均匀一致,无裂纹、高致密.在室温且频率为1kHz时,PST膜介电常数为570,介电损耗为0.02,其热释电系数最大值为7.4×10-4C·m-2·K-1.

关 键 词:PST薄膜  溶胶-凝胶法  介电性能  铁电性能
文章编号:1004-0609(2004)S3-0492-04

Microstructure and electrical properties of PST thin films prepared by sol-gel method
Abstract:
Keywords:
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