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双异质外延Si/Al2O3/Si薄膜制作的CMOS器件
引用本文:昝育德,王俊,李瑞云,韩秀峰,王建华,于芳,刘忠立,王玉田,王占国,林兰英. 双异质外延Si/Al2O3/Si薄膜制作的CMOS器件[J]. 半导体学报, 2004, 25(7): 823-830
作者姓名:昝育德  王俊  李瑞云  韩秀峰  王建华  于芳  刘忠立  王玉田  王占国  林兰英
作者单位:中国科学院半导体研究所 北京100083(昝育德,王俊,李瑞云,韩秀峰,王建华,于芳,刘忠立,王玉田,王占国),中国科学院半导体研究所 北京100083(林兰英)
摘    要:报道了利用高真空MOCVD外延生长γ氧化铝的技术和利用SOS CMOS的成熟工艺制作双异质外延Si/γ-Al2O3/Si单晶薄膜以及用其研制Si/γ-Al2O3/Si CMOS场效应晶体管、Si/γ-Al2O3/Si CMOS集成电路的初步结果.

关 键 词:外延  CMOS  SOS  双异质外延  单晶薄膜  工艺制作  CMOS  器件  结果  集成电路  场效应晶体管  γ氧化铝  外延生长  MOCVD  高真空  利用
文章编号:0253-4177(2004)07-0824-07
修稿时间:2003-08-01

CMOS Device Fabricated from Si/Al2O3/Si
Zan Yude,Wang Jun,Li Ruiyun,Han Xiufeng,Wang Jianhua,Yu Fang,Liu Zhongli,Wang Yutian,Wang Zhanguo and Lin Lanying. CMOS Device Fabricated from Si/Al2O3/Si[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2004, 25(7): 823-830
Authors:Zan Yude  Wang Jun  Li Ruiyun  Han Xiufeng  Wang Jianhua  Yu Fang  Liu Zhongli  Wang Yutian  Wang Zhanguo    Lin Lanying
Abstract:
Keywords:epitaxy  CMOS  SOS
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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