| 基于采集卡的高分辨X射线检测系统 |
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| 引用本文： | 张文,方飞.基于采集卡的高分辨X射线检测系统[J].核电子学与探测技术,2010,30(10). |
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| 作者姓名： | 张文 方飞 |
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| 作者单位： | 内江师范学院物理与电子信息工程学院,四川,内江,641112 |
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| 基金项目： | 四川省教育厅青年基金项目 |
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| 摘 要： | 针对印刷电路板中BGA器件焊点缺陷检测数字化成像问题,设计了一套应用Matrox公司的MeteorII-CameraLink型号采集卡及HAWK-160XI型X-射线源和UNIQ-1800 CCD相机组成的高分辨率X-射线缺陷检测系统。经试验测试最佳放大率下系统分辨率17 lp/mm,缺陷分析精度最小分辨率达到0.03 mm,并给出测试采集效果图。
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| 关 键 词： | 缺陷检测 图像处理 印刷电路板检测 X-射线 |
High-resolution X-ray Detection System Based on Image Acquisition Card |
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| ZHANG Wen,FANG Fei.High-resolution X-ray Detection System Based on Image Acquisition Card[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2010,30(10). |
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| Authors: | ZHANG Wen FANG Fei |
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