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荧光屏调制传递函数的测量
引用本文:Arthur J,Jenkins,潘少凯.荧光屏调制传递函数的测量[J].红外技术,1984(1).
作者姓名:Arthur J  Jenkins  潘少凯
摘    要:对适用于象增强器或者小型阴极射线管的高分辨率荧光屏进行研究时,通常需要将荧光屏与电子光学系统分开,单独测量荧光屏的调制传递函数。由于电子激发在实际测量中是必不可少的,所以,如果需要测量大量的荧光屏,就需要一种可拆卸的真空系统。将一台扫描电子显微镜与一台标准的调制传递函数测量设备组合起来,就可以满足上述要求。荧光屏位于扫描电子显微镜的取样室,一条不足2μm宽的线条被扫描电子显微镜的聚焦电子束激发,只朝着线条方向偏转。荧光屏的结构将线条质量降低,用特制的光学系统把降低了质量的线条的图象从扫描电子显微镜输送到调制传递函数分析仪。本文对确定这种系统响应的测量方法和各种荧光屏的测量结果一一作了说明。

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