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基于模拟的SoC功能验证研究
引用本文:姚爱红,孙盟哲,袁莉娜. 基于模拟的SoC功能验证研究[J]. 微电子学与计算机, 2013, 30(5): 1-9
作者姓名:姚爱红  孙盟哲  袁莉娜
作者单位:1. 哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院,黑龙江哈尔滨,150001
2. 中国科学院电子学研究所,北京,100190
基金项目:黑龙江省自然科学基金项目,中央高校基本科研业务费专项基金项目
摘    要:基于模拟的验证技术在SoC等复杂数字系统功能验证中一直占据统治地位.模拟激励产生的速度和质量是决定验证过程收敛速度的关键因素,覆盖率信息定量地表示了验证完成的程度.覆盖率导向的受约束随机激励生成技术提高了验证过程的效率和自动化程度.按照是否需要待验证设计的内部结构信息,将受约束随机激励生成技术分为基于学习的激励生成和基于构造的激励生成两类并分别进行分析.对基于模拟的SoC功能验证涉及的其它关键技术如:约束定义、覆盖率分析及IP核及核间通信协议的功能验证等国内外研究现状进行了分析和总结,并对未来的发展趋势和研究方向进行了展望.

关 键 词:功能验证  受约束随机模拟  激励生成  覆盖率  系统芯片

A Survey on Simulation Based Functional Verification of SoC
YAO Ai-hong,SUN Meng-zhe,YUAN Li-na. A Survey on Simulation Based Functional Verification of SoC[J]. Microelectronics & Computer, 2013, 30(5): 1-9
Authors:YAO Ai-hong  SUN Meng-zhe  YUAN Li-na
Affiliation:1 College of Computer Science and Technology,Harbin Engineering University,Harbin 150001,China; 2 Institute of Electronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100190,China)
Abstract:
Keywords:functional verification  constrained random simulation  stimulus genenration  coverage  System on Chip
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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