| 基于TAM分组策略的SoC测试多目标优化设计 |
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| 引用本文： | 谈恩民,李清清.基于TAM分组策略的SoC测试多目标优化设计[J].微电子学与计算机,2013(10). |
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| 作者姓名： | 谈恩民 李清清 |
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| 作者单位： | 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,广西桂林,541004 |
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| 摘 要： | 在片上系统芯片（System-on-Chip ，SoC）测试优化技术的研究中，测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素。在基于测试访问机制（Test Access Mechanism ，TAM ）分组策略的基础上，以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型，运用多目标遗传算法对模型进行求解。以ITC’02标准电路中的p93791电路为实例进行验证，表明此方法能够在测试时间和测试功耗的优化上获得较理想的解，且能提高TAM通道的利用率。
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| 关 键 词： | SoC测试 测试时间 测试功耗 测试访问机制 多目标遗传算法 |
Optimization of SoC Test Multiple Objects Based on TAM Grouping Strategy |
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| TAN En-min
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LI Qing-qing.Optimization of SoC Test Multiple Objects Based on TAM Grouping Strategy[J].Microelectronics & Computer,2013(10). |
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| Authors: | TAN En-min LI Qing-qing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SoC test test time test power TAM multi-objective genetic algorithm |
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