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6J1电子管加速寿命试验
引用本文:温洽浩,王玉川,陈树民.6J1电子管加速寿命试验[J].真空电子技术,1979(2).
作者姓名:温洽浩  王玉川  陈树民
摘    要:一.前言随着我国科学技术的发展,工农业各条战线,特别是国防尖端技术都广泛地采用了电子新技术,这对电子元、部件的寿命与可靠性提出了更高的要求。对长寿命管来说,采用通常的例行寿命试验方法,花费的时间太长,消耗人力、物力也太大。如对于一般5000小时的长寿命管,寿试结果的获得最少也得花八个月之久,因此,现有的寿命试验方法与长寿命管生产远远不相适应。

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