JT—60U长脉冲,高βN放电中磁岛宽度的测量 |
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作者姓名: | Isaya. A 严龙文 |
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摘 要: | 通过用一个外差辐射计测量电子回旋发射的振荡,估算了长脉冲、高βN放电期间的磁岛宽度。由于外差计的高空间分辨率约为2cm,所以能详细地测量磁岛结构的演变。磁岛宽度随着起伏的幅度而增大。当m/n=3/2模出现时,饱和的磁岛宽率约为7cm。限制可持续的βN的电阻模的模数一般为m/n=3/2和2/1。本文讨论了预测到的磁岛与新经典撕裂模之间的关系。
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关 键 词: | JT-60U 磁岛宽度 测量 新经典撕裂模 外差辐射计 |
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