Pb1-xLaxTiO3薄膜的制备及特性研究 |
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作者单位: | 郑分刚(苏州大学物理系薄膜材料实验室,江苏,苏州,215006);朱卫东(苏州大学物理系薄膜材料实验室,江苏,苏州,215006);沈明荣(苏州大学物理系薄膜材料实验室,江苏,苏州,215006);甘肇强(苏州大学物理系薄膜材料实验室,江苏,苏州,215006);葛水兵(苏州大学物理系薄膜材料实验室,江苏,苏州,215006) |
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摘 要: | 用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)基底上制备Pb1-xLaxTiO3(PLT,x≤0.2)薄膜,研究薄膜的结构及其介电、铁电性能.在600℃下退火1h的PLT薄膜表现出单一的钙钛矿结构,(100)择优取向明显.在室温下PLT薄膜有典型的电滞回线.在x≤0.2(摩尔比)的范围内,PLT薄膜的矫顽场、剩余极化强度都随着La的增加而降低,相对介电常数则随着La的增加而增加.
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关 键 词: | 溶胶-凝胶 PLT薄膜 研究 |
文章编号: | 1001-9731(2001)02-0124-02 |
修稿时间: | 1999-10-13 |
Investigation on Characters and Preparation of Pb1-xLaxTiO3(PLT) Thin Films |
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