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新型高频硅光电负阻器件的特性模拟及测试分析
引用本文:朱胜利,姚素英,郑云光,李树荣,张世林,郭维廉. 新型高频硅光电负阻器件的特性模拟及测试分析[J]. 半导体学报, 2004, 25(5): 573-578
作者姓名:朱胜利  姚素英  郑云光  李树荣  张世林  郭维廉
作者单位:天津大学电子信息工程学院,微电子系,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,微电子系,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,微电子系,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,微电子系,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,微电子系,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,微电子系,天津,300072
摘    要:给出了达林顿 λ型光电双极晶体管 (DPL BT)的结构及其等效电路 ,并以此等效电路为基础 ,用 PSPICE电路模拟程序对 DPL BT的电学特性 (IC- VCE)进行了模拟 ,对所研制的 DPL BT器件进行了测试 ,并对模拟和实验结果作了深入分析 ,其 IC- VCE特性与模拟结果符合得较好 .研究发现 DPL BT具有良好的特性和多种光电功能 ,在光逻辑、光计算、光通信等领域中具有较好的应用前景

关 键 词:光电负阻器件  光电双极晶体管  模拟
文章编号:0253-4177(2004)05-0573-06
修稿时间:2003-04-12

Characteristic Simulation and Test Analyses of Darlington Photo-Lambda Bipolar Transistor
Zhu Shengli ,Yao Suying,Zheng Yunguang,Li Shurong,Zhang Shilin and Guo Weilian. Characteristic Simulation and Test Analyses of Darlington Photo-Lambda Bipolar Transistor[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2004, 25(5): 573-578
Authors:Zhu Shengli   Yao Suying  Zheng Yunguang  Li Shurong  Zhang Shilin  Guo Weilian
Affiliation:Zhu Shengli 1,Yao Suying,Zheng Yunguang,Li Shurong,Zhang Shilin and Guo Weilian
Abstract:
Keywords:photo electronic negative resistance device  DPLBT  simulation
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