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红外焦平面非均匀性两点校正法分析及FPGA实现
引用本文:石 岩,张天序,王岳环,江浩洋. 红外焦平面非均匀性两点校正法分析及FPGA实现[J]. 激光与红外, 2005, 35(2): 100-103
作者姓名:石 岩  张天序  王岳环  江浩洋
作者单位:1. 华中科技大学图像识别与人工智能研究所,湖北,武汉,430074
2. 华中科技大学图像信息处理与智能控制教育部重点实验室,湖北,武汉,430074
基金项目:本项目受国家自然科学基金重点项目 (No.60135020)资助。
摘    要:在分析了IRFPA有效像元的响应系数与两点法校正系数之间的关系后,指出两点法校正系数的取值范围或动态范围。在此基础上提出了一种在确保一定精度同时又尽量节省资源的前提下,将浮点校正运算近似成定点运算的方法,并分析了定点近似与计算精度之间的关系。依据该方法针对实际IRFPA,设计实现了FPGA硬件校正模块。实验表明该方法是有效的。

关 键 词:红外焦平面阵列  非均匀性校正  两点校正法   FPGA
文章编号:1001-5078(2005)02-0100-04

Study on Two-points Nonuniformity Correction Algorithm for IRFPA and Implementation by Using FPGA
SHI Yan,ZHANG Tian-xu,WANG Yue-huan,JIANG Hao-yang. Study on Two-points Nonuniformity Correction Algorithm for IRFPA and Implementation by Using FPGA[J]. Laser & Infrared, 2005, 35(2): 100-103
Authors:SHI Yan  ZHANG Tian-xu  WANG Yue-huan  JIANG Hao-yang
Affiliation:SHI Yan~1,ZHANG Tian-xu~1,WANG Yue-huan~2,JIANG Hao-yang~1
Abstract:
Keywords:IRFPA  Nonuniformity correction  Two-points correction  FPGA
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